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EC-770S涂(tu)(tu)(tu)(tu)層測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)，膜(mo)厚(hou)儀(yi)(yi)，厚(hou)度(du)(du)儀(yi)(yi)，厚(hou)度(du)(du)計(ji)。EC涂(tu)(tu)(tu)(tu)層測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)本(ben)儀(yi)(yi)器能同時測(ce)量磁性(xing)(xing)基材表面(mian)（如(ru)(ru)鋼、鐵(tie)等）的非磁性(xing)(xing)涂(tu)(tu)(tu)(tu)鍍(du)層（如(ru)(ru)油漆、陶瓷、鉻等），以及非磁性(xing)(xing)金屬基材表面(mian)的非導電(dian)涂(tu)(tu)(tu)(tu)鍍(du)層（如(ru)(ru)油漆等）。本(ben)儀(yi)(yi)表內置高(gao)精密雙探(tan)頭(tou)，利用電(dian)磁感應(ying)和渦(wo)流效應(ying)，全自動(dong)探(tan)測(ce)基材屬性(xing)(xing)，計(ji)算涂(tu)(tu)(tu)(tu)鍍(du)層厚(hou)度(du)(du)，并通過液晶快速顯示結果。

廠家EC-770涂層(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)，膜厚(hou)儀(yi)(yi)，厚(hou)度(du)儀(yi)(yi)，厚(hou)度(du)計(ji)。EC涂層(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)本(ben)儀(yi)(yi)器能同時測(ce)(ce)量磁(ci)性(xing)(xing)(xing)基(ji)材表面（如鋼、鐵等）的非磁(ci)性(xing)(xing)(xing)涂鍍(du)層(ceng)（如油漆、陶瓷、鉻等），以及(ji)非磁(ci)性(xing)(xing)(xing)金屬基(ji)材表面的非導電涂鍍(du)層(ceng)（如油漆等）。本(ben)儀(yi)(yi)表內置(zhi)高(gao)精密雙探頭，利用電磁(ci)感應和渦流效應，全自動探測(ce)(ce)基(ji)材屬性(xing)(xing)(xing)，計(ji)算(suan)涂鍍(du)層(ceng)厚(hou)度(du)，并通過液晶快速顯(xian)示結果。

EC-500/EC700 EC涂(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)測厚(hou)儀(yi)，膜厚(hou)儀(yi)，厚(hou)度(du)儀(yi)，厚(hou)度(du)計(ji)(ji)。EC涂(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)測厚(hou)儀(yi)本儀(yi)器(qi)能(neng)同時測量磁性(xing)(xing)基(ji)(ji)材表(biao)面（如鋼、鐵等）的(de)非磁性(xing)(xing)涂(tu)(tu)鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)（如油漆(qi)(qi)、陶瓷(ci)、鉻等），以及非磁性(xing)(xing)金(jin)屬(shu)基(ji)(ji)材表(biao)面的(de)非導(dao)電(dian)涂(tu)(tu)鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)（如油漆(qi)(qi)等）。本儀(yi)表(biao)內置(zhi)高精(jing)密雙探頭，利用電(dian)磁感應和渦流效應，全自(zi)動探測基(ji)(ji)材屬(shu)性(xing)(xing)，計(ji)(ji)算涂(tu)(tu)鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度(du)，并通過液晶快速顯示結果。

日本得樂SM-1201測(ce)(ce)厚規 日本得樂SM-1201 精密(mi)型測(ce)(ce)厚表(biao)(biao) 千分表(biao)(biao)厚度(du)計 產品(pin)測(ce)(ce)量(liang)時要(yao)：手持表(biao)(biao)盤(pan)式測(ce)(ce)厚表(biao)(biao)將測(ce)(ce)量(liang)物(wu)夾在測(ce)(ce)量(liang)頭和測(ce)(ce)量(liang)鉆之間進行。按下升降桿測(ce)(ce)量(liang)頭則上升，松開即返回到0點。和百(bai)分尺等測(ce)(ce)量(liang)器相比有(you)操(cao)作簡單，測(ce)(ce)量(liang)時間短的特性。 指針和數字式均(jun)有(you)分度(du)值為：0.001mm。 行程式0.001-10mm。

日(ri)本得(de)樂(le)ＳＭ-114測(ce)厚(hou)(hou)規－厚(hou)(hou)薄表 日(ri)本得(de)樂(le)TECLOCK測(ce)厚(hou)(hou)規--厚(hou)(hou)薄表SM-114標準型(xing) 品(pin)(pin)牌：TECLOCK（日(ri)本得(de)樂(le)） 簡介(jie)： 用于紡織布(bu)料、薄膜(mo)、紙張等物品(pin)(pin)的(de)厚(hou)(hou)度(du)測(ce)量，加長型(xing)測(ce)臂具有(you)更大的(de)測(ce)量深度(du)。 原理：在一定的(de)面積與一定荷重下，測(ce)量出的(de)物件厚(hou)(hou)度(du)。指針式(shi)測(ce)厚(hou)(hou)規可(ke)以作為(wei)物品(pin)(pin)檢(jian)測(ce)時的(de)基礎測(ce)量。