描述：EC-770S涂層測厚(hou)(hou)儀(yi)，膜厚(hou)(hou)儀(yi)，厚(hou)(hou)度(du)儀(yi)，厚(hou)(hou)度(du)計。EC涂層測厚(hou)(hou)儀(yi)本儀(yi)器能同時(shi)測量磁性(xing)基材表(biao)(biao)面（如鋼(gang)、鐵等(deng)）的(de)非磁性(xing)涂鍍層（如油(you)漆、陶瓷、鉻等(deng)），以及非磁性(xing)金屬基材表(biao)(biao)面的(de)非導電涂鍍層（如油(you)漆等(deng)）。本儀(yi)表(biao)(biao)內(nei)置高精密雙探(tan)頭(tou)，利用電磁感(gan)應(ying)和渦流(liu)效應(ying)，全(quan)自(zi)動(dong)探(tan)測基材屬性(xing)，計算涂鍍層厚(hou)(hou)度(du)，并(bing)通過液晶快速顯示結(jie)果(guo)。
EC-770S涂層測厚儀本儀器能同時測量磁(ci)(ci)性(xing)基材表(biao)面（如鋼、鐵等(deng)）的(de)非(fei)磁(ci)(ci)性(xing)涂(tu)鍍層(ceng)（如油漆、陶瓷、鉻等(deng)），以及非(fei)磁(ci)(ci)性(xing)金屬基材表(biao)面的(de)非(fei)導(dao)電(dian)涂(tu)鍍層(ceng)（如油漆等(deng)）。本儀表(biao)內置(zhi)高精(jing)密雙探(tan)頭，利(li)用電(dian)磁(ci)(ci)感應(ying)和渦(wo)流(liu)效應(ying)，全自動探(tan)測基材屬性(xing)，計算涂(tu)鍍層(ceng)厚度，并通過液晶快速顯示結果。
【主要功能】
兩(liang)種測量模式，單(dan)次和連續；
可存儲最多五組數據(ju)；
可靈活零校(xiao)準(zhun)和多(duo)點(dian)校(xiao)準(zhun)(最多(duo)四(si)點(dian))。各(ge)組(zu)有單獨的零校(xiao)準(zhun)和多(duo)點(dian)校(xiao)準(zhun)，組(zu)與組(zu)之間不(bu)影(ying)響；
用戶可隨時查看當前工作組(zu)已測(ce)得(de)的數據(ju)，并刪除所選數據(ju)或整(zheng)組(zu)數據(ju)；
實時顯示(shi)或查看(kan)當前(qian)工作組統計值(zhi)：平均值(zhi)，最(zui)小值(zhi)，最(zui)大值(zhi)，標準方差；
三種探(tan)頭(tou)模(mo)式: 自動、磁(ci)感應(ying)和(he)渦流；
可(ke)為各組(zu)單獨設置高低限報警(jing)(jing)值，超(chao)*屏(ping)幕指示報警(jing)(jing)，支持紅色背光報警(jing)(jing)；
可開啟或關閉自(zi)動關機功(gong)能；
USB接口可傳(chuan)輸數據(ju)到計(ji)算機；
單位(wei)可(ke)在um、mm、mils之間切換；
低電和錯(cuo)誤提示；
EC-770S涂層測厚儀【應(ying)用場(chang)景】
本(ben)儀(yi)器(qi)能無損、快(kuai)速、精密(mi)地進行涂、鍍層(ceng)厚度的測量。它廣(guang)泛應用在(zai)電(dian)鍍層(ceng)、表面(mian)工藝、質控等檢測領域。
【技術(shu)指標與型(xing)號對比】
型號(hao) | EC-770 | EC-770S | EC-770E(外(wai)置探頭) | EC-770X(內外置探頭可(ke)選) | EC-500X(內外置探頭可選) |
探頭通道 | 鐵磁(ci)性F探頭 非鐵(tie)磁性N探頭 | 鐵磁性F探頭 非鐵(tie)磁性(xing)N探頭(tou) | 鐵磁性(xing)F探頭 非鐵(tie)磁(ci)性N探(tan)頭 | 鐵磁性(xing)F探頭 非鐵磁(ci)性(xing)N探頭 | 鐵磁性(xing)F探(tan)頭 非鐵磁性N探(tan)頭 |
原理 | 磁感應(ying) 渦流效(xiao)應 | 磁感應 渦流效應 | 磁感(gan)應 渦流效(xiao)應(ying) | 磁感應(ying) 渦(wo)流效應 | 磁(ci)感應 渦流效應 |
測量(liang)范圍 | 0~2000um 0~2000um | 0~2000um 0~2000um | 0~2000um 0~2000um | 可(ke)選(xuan)內置(zhi)探頭： F5K N3K F3K N3K F2.5K N2.5K F5K F3K F2.5K N3K N2.5K
可選外置探(tan)頭： F5K N3K F3K N3K F2.5K N2.5K F5K F3K F2.5K N3K N2.5K | 可選內置探頭： F0.5K N0.5K F0.5K F0.5K
可(ke)選(xuan)外置(zhi)探頭： F0.5K N0.5K F0.5K F0.5K |
測量精度 | ±(2.5%+1um) ±(2.5%+1um) | ±(2%+1um) ±(2%+1um) | ±(2.5%+1um) ±(2.5%+1um) | ±(2%+1um) | ±(1%+1um) |
分辨率 | 0.1um(<100um) 1um(其他) 0.1um(<100um) 1um(其他) | 0.1um(<100um) 1um(其他(ta)) 0.1um(<100um) 1um(其他) | 0.1um(<100um) 1um(其(qi)他) 0.1um(<100um) 1um(其(qi)他(ta)) | 0.1um(<100um) 1um(其他) | 0.1um(<100um) 1um(其他) |
可存(cun)儲(chu)數據個(ge)數 | 320 | 2000 | 320 | 2000 | 2000 |
數據接口：USB | |||||
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